該3086型1nm-DMA差分靜電遷移分析儀一般和TSI3082型靜電分級器、3777型納米增強儀以及凝聚粒子計數器配套使用,且該分析儀工作流程已經被最優(yōu)化,不但能夠將散逸損失降至最低,而且能夠提高1nm到50nm顆粒物的粒徑測量的粒徑分辨率。
 
顆粒物粒徑測量
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